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型號：X4 Poseidon
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型號：SKYSCAN 2214 CMOS版
型號：Skyscan1273
型號：PHI Genesis 500
以用戶為中心 以人才為根本 努力實現你我共贏
束蘊儀器（上海）有限公司自成立以來，憑借與德國布魯克（BRUKER）、國際衍射數據中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實驗室分析儀器品牌的戰略合作，迅速成為業界儀器供應商。我們擁有一支積極樂觀，正直誠信的年輕團隊，我們熱忱的信仰科學，相信科學技術能為我們的客戶帶來質量較高的生活，為社會的進步起到積極的促進作用。束蘊儀器為各類客戶提供完善的實驗室和工業檢測儀器及過程控制設備，專業的應用支持及完善的售后服務，在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶，如高校、科研院所、航空航天、國家機關、檢驗機構及工...
進一步提高公司的技術、質量和服務
在材料科學與地質研究的廣袤天地里，多晶X射線衍射儀，憑借其原理與強大功能，開啟眾多測試對象微觀結構分析的大門。對于各類無機非金屬材料，以陶瓷為例，無論是日常所用的精美瓷具，還是工業領域的耐高溫陶瓷零部件，多晶X射線衍射儀都能大顯身手。通過向陶瓷樣品發射X射線并接收衍射信號，精準確定陶瓷的物相組成，分辨出是莫來石、石英還是其他晶相，為優化燒制工藝、調控性能提供關鍵依據。在水泥生產中，它能檢測熟料礦物成分，確保水泥質量穩定，從微觀層面把控強度、凝結時間等宏觀性能。玻璃這種看似均質...
在材料科學、化學分析以及生命科學等眾多前沿領域中，TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜）質譜儀以其優勢成為了一種極為重要的分析工具。它能夠在分子水平上對樣品表面進行化學成分和結構的表征，而其模式的合理設置則是實現高質量分析結果的關鍵所在。TOF-SIMS質譜儀基于二次離子發射的原理開展工作。當一束脈沖式的初級離子束轟擊樣品表面時，會引發樣品表面的原子或分子產生電離，形成二次離子并濺射出來。這些二次離子隨后被加速、飛行，并根據其質荷比在飛行時間探測器中被檢測和分析，從而獲得樣...
Lexsyg釋光探測器|在材料表征科研領域應用分享新型硼酸鑭銪材料熱釋光研究突破，環境輻射監測潛力明顯文章來源：https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.108571導語近日，一項關于摻銪硼酸鑭（LaB3O6:Eu3?）材料的熱釋光（TL）行為研究取得重要進展。該研究通過創新合成方法與先進儀器聯用，揭示了材料在輻射劑量檢測中的優異性能，為環境輻射監測提供了新思路。研究背景硼酸鹽材料因原子序數與人體軟組織接近，是理想的輻射劑量檢測候選...
告別薄膜手動測試“苦海”！解鎖樣品自動測試，提升效率與，結果更可靠！|薄膜樣品自動測試方案詳解（XRD）布魯克X射線部門孟璐高校測試樣品使用自動化方法的必要性日益凸顯。面對日益增長的樣品數量和復雜度，材料與設備的學習門檻使得傳統人工操作效率低下、易出錯，且耗費大量寶貴的人力資源與時間。自動化方法能明顯提升測試通量，大幅縮短實驗周期。更重要的是，它能嚴格標準化操作流程，大限度的減少人為誤差，確保實驗數據的精確性與可重復性，這是高水平科研的基石。自動化不僅釋放科研人員精力，使其專...
粉末衍射儀是一種在材料科學、物理學、化學等領域極為重要的分析儀器，它主要通過對粉末樣品的衍射現象研究來揭示材料的晶體結構信息。其工作方式基于X射線或中子束與晶體的相互作用。當一束單色X射線或中子束照射到粉末樣品上時，會發生衍射現象。這是因為晶體中原子或離子的排列具有周期性，相當于一個個微小的三維光柵。根據布拉格定律，當入射波長、衍射角和晶面間距滿足特定關系時，就會在某些特定的方向上產生衍射光束。在實際操作中，粉末衍射儀通常將粉末樣品制成平板狀或裝入特殊的樣品架中，然后將其置于...
在材料科學、化學、物理及表面科學等領域，深入了解樣品的微觀結構和電子態是推動研究與技術進步的關鍵。光電子能譜儀作為一種強大的表面分析工具，以其探測能力，為科學家提供了揭示樣品深層信息的窗口。下面將探討能譜儀能夠檢測樣品的哪些關鍵信息，以及這些信息如何助力科學研究。一、元素組成與化學態分析能譜儀的核心功能之一是確定樣品表面的元素組成及其化學狀態。當高能光子（如X射線或紫外光）照射到樣品上時，會激發樣品中的電子逸出，形成光電子。通過測量這些光電子的能量分布，可以識別出樣品中存在的...
在現代檢測與分析領域，X射線三維成像為諸多行業帶來革新性視角，深度挖掘物體內部奧秘。X射線三維成像顯著特點之一是高穿透性。X射線波長較短，能量充沛，輕松穿透常規材料，無論是金屬合金的致密軀體、陶瓷的堅硬骨架，還是塑料、橡膠等有機高分子物質，都難以阻擋其前行腳步。這一特性使其能直達物體內部深處，為隱藏瑕疵、復雜結構探查開辟通道，像工業鑄件內部微小氣孔、夾雜物，在它面前無所遁形，保障產品內在質量把控。其具備精準呈現內部三維結構的能力。不同于傳統二維X光片僅展示平面投影、易造成重疊...
DSIMS（動態二次離子質譜）技術實現元素分析主要通過以下方式：一、離子源轟擊樣品1、產生一次離子束：DSIMS利用電子光學方法將惰性氣體等物質形成初級離子，并通過加速和聚焦形成細小的高能離子束。常見的一次離子包括銫（Cs?）或氧（O??）離子等，這些離子在加速電壓作用下獲得特定能量。2、轟擊樣品表面：高能的一次離子束以一定的能量和束流大小轟擊樣品表面，這一過程使樣品表面的原子或分子獲得能量。二、二次離子產生1、濺射過程：一次離子束轟擊樣品表面時，與樣品表面的原子或分子發生相...
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